| نوع کنتاکتور: | جامد | مادی: | مس |
|---|---|---|---|
| شکل: | مستطیل | عرض: | 2.0 میلی متر |
| نوع: | عایق | گواهینامه ها: | ROHS/UL/SGS/ISO9001:2008 |
| نام محصول: | سیم Peek Wire 1.4mmx2.0mm مینا مینا شده است | ضخامت: | 1.4 میلی متر |
| برجسته کردن: | سیم مسی تخت با روکش PEEK,1.4mmx2.0mm سیم مس مستطیل,سیم صاف عایق PEEK,1.4mmx2.0mm rectangular copper wire,PEEK insulated flat wire |
||
| نه، نه | ماده | مشخصات | داده های اندازه گیری | تجهیزات اندازه گیری |
|---|---|---|---|---|
| 1 | عرض مس | 1.980-2.020 میلی متر | 2.004 2005 | میرکومتر |
| 2 | ضخامت مس | 1.380-1.420mm | 1.400399 | میرکومتر |
| 3 | عرض کلی | 2.300-2.360 میلی متر | 2.324.321 | میرکومتر |
| 4 | ضخامت کلی | 1.700 تا 1.760 میلی متر | 1.732.731 | میرکومتر |
| 5 | شعاع مس | 0.350-0.450mm | 0.375. 0.408 | میکروسکوپ |
| 6 | شعاع مس | 0.385. 0.412 | میکروسکوپ | |
| 7 | شعاع مس | 0.399. 0.411 | میکروسکوپ | |
| 8 | شعاع مس | 0.404 0.407 | میکروسکوپ | |
| 9 | ضخامت لایه عایق | 0.145-0.185mm | 0.170 0.159 | میکروسکوپ |
| 10 | ضخامت لایه عایق | 0.162 0.155 | میکروسکوپ | |
| 11 | ضخامت لایه عایق | 0.155 0.161 | میکروسکوپ | |
| 12 | ضخامت لایه عایق | 0.167 0.165 | میکروسکوپ | |
| 13 | ضخامت لایه عایق | 0.152 0.155 | میکروسکوپ | |
| 14 | ضخامت لایه عایق | 0.161 0.159 | میکروسکوپ | |
| 15 | ضخامت لایه عایق قطر | 0.145-0.185mm | 0.156 0.158 | میکروسکوپ |
| 16 | ضخامت لایه عایق قطر | 0.159 0.155 | میکروسکوپ | |
| 17 | ضخامت لایه عایق قطر | 0.154 0.159 | میکروسکوپ | |
| 18 | ضخامت لایه عایق قطر | 0.160 0.165 | میکروسکوپ | |
| 19 | مس | T1 | باشه | گواهی مواد |
| 20 | پوشش/ درجه دما | ۲۴۰ درجه سانتیگراد | باشه | گواهی مواد |
| 21 | کشش | ≥40٪ | ۴۶٬۴۸ | آزمون کشش |
| 22 | زاویه ی پشت بهار | / | 5.186098 | تست عقب به صورت خودکار |
| 23 | انعطاف پذیری | پس از پیچاندن با میله های دور Ø2.0mm و Ø3.0mm، نباید در لایه عایق شکافی وجود داشته باشد. | خیلی خب. | دید |
| 24 | پیوستن | ≤3.00mm | 0.394 0.671 | تست کننده کشش و میکروسکوپ |
| 25 | مقاومت هادی 20°C | ≤6.673 Ω/km | 6.350360 | تست کننده مقاومت هادی |
| 26 | BDV | ≥12000 ولت | ۲۱۱۷۰ | تست کننده ولتاژ اتوماتیک |
| 27 | PDIV | ≥1300 RMS (25°C،50V/S،50Hz،100Pc) | 1425 1429 | تست کننده PDIV |
| 28 | شوک گرما | پس از پخت در ۲۴۰ درجه سانتیگراد برای ۳۰ دقیقه، لایه عایق نباید ترک داشته باشد. | باشه | فر |
| 29 | بازرسی نقص | ولتاژ بالا Pinhole: DC 3000V، 16uA قسمت: ارتفاع>0.100mm باید مشخص شود ناخالصی:طول یا عرض ≥ 0.4mm یا سطح ≥ 0.16mm2 باید مشخص شود |
٠ ٠ 2 |
سیستم بازرسی آنلاین |
| 30 | اسپول و وزن | مرحله نمونه گیری:P-30,25±15kg جرم محصول در:PC-630B,160±60kg | P-30 | دید |